Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA IMPEDANCYJNA
Wyświetlane wyniki pochodzą z wyszukiwania alternatywnego.
Filtry
wszystkich: 411
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 334 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 13 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 2 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 5 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 2 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 8 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 15 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 1 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 30 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA IMPEDANCYJNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR