Filters
total: 139
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (106)
Search results for: METODA CZASU PRZELOTU
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Fotofizyki Układów Molekularnych
Research PotentialTematyka badawcza Zespołu jest związana z badaniem stanów wzbudzania elektronowego w układach molekularnych oraz podstawowych procesów elektronowych limitujących działanie ograniczonych diod elektroluminescencyjnych i ogniw fotowoltaicznych - pod kątem polepszenia ich parametrów technicznych.
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (33)
Search results for: METODA CZASU PRZELOTU
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium LINTE^2
Business OfferBadania w zakresie elektroenergetyki, energoelektroniki i przyłączania nowoczesnych źródeł energii do sieci elektroenergetycznej
-
Laboratorium Inżynierii Jakości LAB Q
Business Offer1. Six sigma – podstawy 2. Six Sigma – wybrane narzędzia (m.in. analiza rozkładu - rozkład normalny/dwumianowy, normalizacja rozkładu – centralne twierdzenie graniczne) 3. Six Sigma - testowanie hipotez (rozróżnianie grup komponentów na podstawie pomiarów i analizy statystycznej) z wykorzystaniem programu Minitab 4. Analiza systemów pomiarowych (MSA) dla pomiarów powtarzalnych z wykorzystaniem programu Minitab (m.in. Gage R&R...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (2404)
Search results for: METODA CZASU PRZELOTU
-
Applying of the optical time-of-flight spectroscopy for the paper and pulp characterization
PublicationW pracy przedstawiono korzyści wykorzystania optycznej spektroskopii czasu przelotu w badaniach papieru i miazgi drzewnej. Przedmiotem badań były różne gatunki papieru oraz miazgi drzewnej (bez obróbki cieplnej, po obróbce cieplnej lub po obróbce chemicznej). W pomiarach wykorzystano półprzewodnikowe lasery impulsowe oraz w charakterze fotoodbiorników kamerę smugową lub licznik fotonów.
-
Wpływ nierównomierności grubości próbek na prądy TOF oraz TSC
PublicationZbadano wpływ nierównomierności grubości próbek na przebiegi natężenia prądu, rejestrowane metodami czasu przelotu oraz termicznie stymulowanych prądów. Wyniki analityczne porównano z rezultatami symulacji prądów metodą Monte Carlo.
-
Zastosowanie czasowo-częstotliwościowej analizy sygnałów dla poprawy właściwości metrologicznych systemów optycznej tomografii koherentnej
PublicationOptyczna tomografia koherentna (OCT) jest metodą obrazowania wewnętrznej struktury obiektów rozpraszających promieniowanie optyczne. Metoda ta wykorzystuje interferometrię niskokoherentą do pomiaru czasu przelotu promieniowania wstecznie rozproszonego od elementów struktury obrazowanego obiektu z rozdzielczością w zakresie od jednego do kilkunastu mikrometrów. Rozprawa dotyczy dwóch rozszerzeń metody OCT. Pierwsze z nich – polaryzacyjna...
-
Światłowodowe sensory odkształceń i temperatury wykorzystujące pomiar czasu .
PublicationW pracy przedstawiono zasadę działania światłowodowych sensorów wykorzystujących pomiar czasu przelotu krótkich impulsów laserowych. Sensory te mogą pracować w trybie transmisyjnym lub odbiciowym. Dzięki swej małej tłumienności można je łatwo łączyć w sieci o różnych topologiach, mających wiele (dziesiątki lub setki punktów pomiarowych). Przykładem sensora z pomiarem czasu przelotu jest odcinek światłowodu jednomodowego poddany...
-
Time-of-flight fiber optic sensors for strain and temperature measurement
PublicationW pracy przedstawiono światłowodowy sensor czasu przelotu do pomiaru odkształceń i temperatury mogący pracować zarówno w modzie transmisyjnym, jak i odbiciowym. W pomiarach czasu przelotu wykorzystano krótkie impulsy światłowodowe wprowadzane do jednodomowego światłowodu. Pod wpływem czynników zewnętrznych (temperatura, odkształcenie, siła rozciągająca) zmieniała się droga optyczna w światłowodzie, co powodowało zmiany czasu przelotu...