Filters
total: 133
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (98)
Search results for: MONITORING CIENKICH WARSTW
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Fizyki Ciała Stałego
Research PotentialTematyka badawcza Katedry Fizyki Ciała Stałego obejmuje wytwarzanie i badanie materiałów dla energetyki (m.in. nanostruktury, sensory) o innowacyjnych właściwościach fizyko-chemicznych, tj: * kryształy, polikryształy, ceramika, szkło * materiały objętościowe, cienkie warstwy, nanomateriały * materiały metaliczne, półprzewodnikowe, nadprzewodnikowe, izolatory Tematyka badawcza obejmuje również badania symulacyjne i obliczeniowe...
-
Katedra Inżynierii Drogowej i Transportowej
Research PotentialKatedra Inżynierii Drogowej i Transportowej jest jedną z najstarszych katedr Politechniki Gdańskiej. Prowadzi prace naukowo-badawcze obejmujące szereg zagadnień związanych z budową dróg, autostrad i lotnisk oraz w zakresie transportu, ruchu drogowego oraz bezpieczeństwa ruchu drogowego.
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (35)
Search results for: MONITORING CIENKICH WARSTW
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Badań Terenowych
Business Offerdiagnostyka obiektów mostowych i inżynierskich: badania in situ, próbne obciążenia, monitoring i identyfikacja konstrukcji, zaawansowane analizy teoretyczne i obliczeniowe
Other results Pokaż wszystkie wyniki (2515)
Search results for: MONITORING CIENKICH WARSTW
-
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
PublicationPrzedstawiono wybrane problemy diagnostyki ramanowskiej in-situ wzrostu cienkich warstw węglowych w prózniowym procesie CVD, w szczególności problemy doboru długości fali lasera oraz konstrucji głowic optycznych. Opisano system pomiarowy zrealizowany w Katedrze Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG. Przedstawiono wyniki wstępnych pomiarów oraz ich interpretację.
-
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
PublicationPrzedstawiono zagadnienia monitorowania in-situ prózniowego procesu wzrostu cienkich warstw węglowych, a w szczególności diamentowych i diamentopodobnych DLC. Zastosowanie pomiarów ramanowskich umożliwia zbadanie struktury warstwy na poziomie molekularnych (zawartości faz węglowych sp2 i sp3, a także defektów wodorowych). Użycie spektroskopii in-situ podczas procesu syntezy pozwala monotorować poprawność przebiegu procesu i opracować...
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublicationTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Wytwarzanie cienkich warstw azotku wanadu metodą termicznego azotowania tlenku wanadu
Publicationw niniejszej pracy opisano metodę wytwarzania cienkich warstw vn - sio2 poprzez termiczne azotowanie powłok vox - sio2. warstwy tlenku wanadu zostały naniesione na szklane podłoża metodą zol - żel. po wysuszeniu nastąpiło wygrzanie warstw w atmosferze amoniaku. wygrzewanie w temperaturze wyższej, od temperatury dysocjacji termiczne amoniaku, mikroporowatych warstw tlenku wanadu spowodowało azotowanie materiału. w konsekwencji procesu...
-
Wytwarzanie cienkich warstw dla tlenkowych ogniw paliwowych metodą pirolizy aerozolowej
PublicationCelem pracy doktorskiej były badania cienkich warstw wytworzonych za pomocą pirolizy aerozolowej na potrzeby tlenkowych ogniw paliwowych. Warstwy te miały spełniać funkcje ochronne dla dwóch zastosowań, jako bariera dyfuzyjna między katodą, a elektrolitem oraz jako warstwy ochronne dla stalowych interkonektorów pracujących w różnych atmosferach.