Zespół Obrabiarek, Narzędzi i Obróbki Skrawaniem

Mechaniczna technologia drewna

Zespół Systemów Multimedialnych

* technologie archiwizacji, rekonstrukcji i dostępu do nagrań archiwalnych * technologie inteligentnego monitoringu wizyjnego i akustycznego * multimedialne technologie telemedyczne * multimodalne interfejsy komputerowe

Katedra Przedsiębiorczości i Prawa Gospodarczego

Zatrudnieni w niej pracownicy wywodzą się z różnych katedr i reprezentują kilka dyscyplin naukowych, które wiążą się z przedsiębiorczością. Zajmujemy się ekonomią, zarządzaniem, prawem, psychologią, czyli naukami, w których przedsiębiorczość jest jednym z istotnych analizowanych zjawisk. Dzięki zróżnicowaniu dyscyplin, które reprezentujemy, realizujemy wielostronne badania dotyczące - poza przedsiębiorczością - także samego przedsiębiorcy...

Laboratorium Technologii Maszyn i Inżynierii Odwrotnej

InerLAB - Laborarium grawimetrycznych pomiarów morskich i brzegowych

Zagadnienia związane z technologiami pozyskiwania i eksploatacji danych grawimetrycznych.

GUT Tribology

* badania tarcia i zużycia materiałów tribologicznych * badania eksperymentalne układów łożyskowych (tocznych i ślizgowych) smarowanych olejem, wodą, zanieczyszczonymi smarami lub smarami smarowanymi * teoretyczne badania wykorzystania modeli zweryfikowanych eksperymentalnie (w tym MES, CFD i FSI) * eksperymentalne badania wytrzymałości zmęczeniowej (łożyska ślizgowe cienkowarstwowe) * projektowanie nowych i modernizacja istniejących...

Depth profile of the gold-silver bimetallic structures

Silver and gold bimetallic layers were deposited on a silicon substrate by magnetron sputtering method. Both, Au and Ag layers had 3 nm of thickness. That prepared nanostructures were measured by XPS method. To obtain a depth profile of chemical composition, an Argon ion (Ar+) gun was used for etching surface of sample. Each cycle of etching takes 30...

Depth profile of the chemical composition of the Au-Ag multilayers

Silver and gold multilayers were deposited on a silicon substrate by magnetron sputtering method. Both type, Au and Ag thin films had 2 nm of thickness. Totally structure had thickness of 6 nm (Au-Ag-Au). That prepared multilayers were measured by XPS method. To obtain a depth profile of chemical composition, an Argon ion (Ar+) gun was used for etching...

Depth profile of the composition of 8 nm Al2O3 thin film

8 nm layer of aluminum oxide (Al2O3) was deposited by ALD method on a s.  Atomic layer deposition provides precise thickness control down to a single atomic layer. The precursors used were trimethylaluminum (Sigma-Aldrich) and purified water. The deposition of the atomic layer was carried out at 200 °C. To investigate the profile of concenration of...