Abstract
Przedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano i przebadano na komputerze PC.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- materiały konferencyjne indeksowane w Web of Science
- Title of issue:
- XIX IMEKO World Congress [Dokument elektroniczny]: Fundamental and Applied Metrology, September 6-11, 2009, Lisbon, Portugal. - Dane tekstowe strony 0 - 0
- Language:
- English
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Czaja Z., Kowalewski M..: An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method, W: XIX IMEKO World Congress [Dokument elektroniczny]: Fundamental and Applied Metrology, September 6-11, 2009, Lisbon, Portugal. - Dane tekstowe, 2009, ,.
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 106 times