Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano i przebadano na komputerze PC.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- materiały konferencyjne indeksowane w Web of Science
- Tytuł wydania:
- XIX IMEKO World Congress [Dokument elektroniczny]: Fundamental and Applied Metrology, September 6-11, 2009, Lisbon, Portugal. - Dane tekstowe strony 0 - 0
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z., Kowalewski M..: An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method, W: XIX IMEKO World Congress [Dokument elektroniczny]: Fundamental and Applied Metrology, September 6-11, 2009, Lisbon, Portugal. - Dane tekstowe, 2009, ,.
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 106 razy