Search
Abstract
Badano możliwości wykorzystania fluktuacji rezystancji w cienkich warstwach TiO2 do wykrywania gazów. Pomiary przeprowadzono, gdy próbka była oświetlona promieniowaniem ultrafioletowym o długości 370nm, w obecności gazu H2S. Stwierdzono, że fluktuacje rezystancji są indukowane promieniowaniem ultrafioletowym i pozwalają na wykrycie obecności H2S w stężeniu do 1.5 ppm.
Authors (4)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach dostępnych w wersji elektronicznej [także online]
- Language:
- English
- Publication year:
- 2007
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 53 times
Recommended for you
Application of nonlinearity measures to chemical sensor signals
- J. Smulko,
- L. B. Kish,
- G. Schmera
2003
Fluctuation phenomena in semiconductor gas sensors
- L. Hasse,
- J. Smulko,
- L. Spiralski
- + 1 authors
2006
Gas sensing by resistance fluctuations in PdxWO3 nanoparticle films.
- J. Ederth,
- J. Smulko,
- L. B. Kish
- + 3 authors
2004