Search
Abstract
Przedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę układów SCANSTA400. Zaprezentowano dwie nowe, będącą w fazie opracowywania standardu, propozycje ułatwionego testowania: normę IEEE P1581 do testowania pamięci oraz normę IEEE 149.8.1 do testowania złącz z wykorzystaniem sondy pojemnościowej. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz przedstawiono perspektywy i kierunki ich dalszego rozwoju w zakresie testowania a także programowania i debugingu systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach, ze szczególnym uwzględnieniem opracowywanej w grudniu 2009 dwuprzewodowej magistrali IEEE 1149.7.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
Przegląd Elektrotechniczny
pages 1 - 4,
ISSN: 0033-2097 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2010
- Bibliographic description:
- Bartosiński B.: Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących // Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 9 (2010), s.1-4
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 78 times