Search
Abstract
Rozdział opisuje pomiar rezystywności zmodyfikowaną metodą van der pauwa, oraz ruchliwości nośników metodą hallowską. w pracy opisano stanowisko pomiarowe. zaprezentowano program komputerowy niezbędny do przeprowadzenia pomiarów, a także wyniki pomiarów elektrycznych cienkiej warstwy tlenku cyny. badana warstwa została naniesiona na szklane podłoże metodą rozpylania magnetronowego.
Authors (4)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Monographic publication
- Type:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Title of issue:
- XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI strony 145 - 151
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Łapiński M., Domaradzki J., Berlicki T., Górnicka B.: Zautomatyzowane pomiary rezystywności i ruchliwości w tlenkach półprzewodnikowych SnO2// XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI/ ed. ed. Jan Zarzycki Wrocław: Wrocławskie Towarzystwo Naukowe, 2009, s.145-151
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 80 times
Recommended for you
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 authors
2009
Electrical properties of YSZ films prepared by netshape technology
- P. Jasiński,
- V. Petrovsky,
- T. Suzuki
- + 2 authors
2005
Electrical properties of polymer coatings modified with nanoadditives
- B. Górnicka,
- K. Sieradzka,
- J. Domaradzki
- + 1 authors
2009