Wyszukiwarka
Abstrakt
Rozdział opisuje pomiar rezystywności zmodyfikowaną metodą van der pauwa, oraz ruchliwości nośników metodą hallowską. w pracy opisano stanowisko pomiarowe. zaprezentowano program komputerowy niezbędny do przeprowadzenia pomiarów, a także wyniki pomiarów elektrycznych cienkiej warstwy tlenku cyny. badana warstwa została naniesiona na szklane podłoże metodą rozpylania magnetronowego.
Autorzy (4)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja monograficzna
- Typ:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Tytuł wydania:
- XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI strony 145 - 151
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Łapiński M., Domaradzki J., Berlicki T., Górnicka B.: Zautomatyzowane pomiary rezystywności i ruchliwości w tlenkach półprzewodnikowych SnO2// XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI/ ed. ed. Jan Zarzycki Wrocław: Wrocławskie Towarzystwo Naukowe, 2009, s.145-151
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 126 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 autorów
2009
Electrical properties of YSZ films prepared by netshape technology
- P. Jasiński,
- V. Petrovsky,
- T. Suzuki
- + 2 autorów
2005
Electrical properties of polymer coatings modified with nanoadditives
- B. Górnicka,
- K. Sieradzka,
- J. Domaradzki
- + 1 autorów
2009