Search
Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 11738
-
Catalog
- Publications 5104 available results
- Journals 29 available results
- People 160 available results
- Inventions 13 available results
- Projects 17 available results
- Laboratories 6 available results
- Research Teams 9 available results
- Research Equipment 49 available results
- e-Learning Courses 1664 available results
- Events 53 available results
- Open Research Data 4634 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: 1/f noise
-
Generation-recombination and 1/f noise in carbon nanotube networks
PublicationThe low-frequency noise is of special interest for carbon nanotubes devices, which are building blocks for a variety of sensors, including radio frequency and terahertz detectors. We studied noise in as-fabricated and aged carbon nanotube networks (CNNs) field-effect transistors. Contrary to the majority of previous publications, as-fabricated devices demonstrated the superposition of generation-recombination (GR) and 1/f noise...
-
Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise
PublicationNoise has been used as a diagnostic tool of surge arrester varistor structures comprising of ZnO grains of various type and size. The physical and electrical properties of the measured samples have been described. In the experimental study, the applied measurement system and the results of noise measurements for the selected structures of varistors designed for the continuous working voltage 280 V, 440 V and 660 V have been presented....
-
1/f noise as a diagnostic tool for non-destructive testing of silicon solar cells
PublicationPrzeprowadzono badania eksperymentalne charakterystyk statycznych i szumowych krzemowych ogniw słonecznych. Wyniki wykazują możliwość wykorzystania szumu 1/f jako narzędzia diagnostycznego w testach nieniszczacych tych przyrzadów.
-
The current amplifier in low frequency noise measurements; Absolute calibration and rigorous 1/f noise extraction for MOSFET´s
PublicationPrzedstawiono budowę wzmacniacza prądowego i sposób obliczania szumów wyjściowych przy dołączonym do wejścia rezystorze wzorcowym. Przedstawiono wyniki eksperymentów potwierdzających prawidłowość przyjętego sposobu postępowania. Zaproponowano metodę wyznaczania składowej 1/f szumów drenu tranzystora MOSFET.
-
The noise macromodel of an optocoupler including 1/(f^alfa) noise source
PublicationThe course of design of an optocoupler's PSpice macromodel including noise sources is described. The PSpice macromodel is proposed for the low frequency range. The PSpice model of a MOSFET transistor was applied as the noise source type 1/(f^alfa) in an optocoupler PSpice macromodel. In the enhanced macromodel the value of an exponent α can be changed in the range of 0.8 - 1.25.
-
Quality assessments of electrochromic devices: the possibleuse of 1/f current noise
PublicationElementy wykorzystujące zjawisko elektrochromizmu, potrafiące zmieniać przezroczystość za pomocą ładowania/rozładowania ładunkiem elektrycznym, wykonano na bazie laminatów pokrytych porowatą strukturą tlenków Ni oraz tlenków Wi-V. Oba laminaty, na które naniesiono przewodzącą warstwę In2O3, przedzielono warstwą elektrolitu. Obserwowano szumy typu 1/f w prądzie I płynącym w trakcie rozładowywania urządzenia. Gęstość widmowa mocy...
-
Electrochromic foil-based devices: optical transmittance and modulation range, effect of ultraviolet irradiation,and quality assessment by 1/f current noise
PublicationPrzedstawiono technologię wytwarzania elementów wykazujących zjawisko elektrochromizmu - zmiany transmitancji optycznej pod wpływem gromadzenia ładunku. Pokazano, że zastosowanie warstwy odbijającej może poprawić stopień zmian transmitancji optycznej. Ponadto, pokazano, że zjawiska losowe generujące szum typu 1/f w tych elementach może być wykorzystane do oceny ich jakości.
-
The scintillation properties of Ce x La 1−x F 3
Publication -
Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.
PublicationWe wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...
-
Towards increasing F-measure of approximate string matching in O(1) complexity
PublicationThe paper analyzes existing approaches for approximate string matching based on linear search with Levenshtein distance, AllScan and CPMerge algorithms using cosine, Jaccard and Dice distance measures. The methods are presented and compared to our approach that improves indexing time using Locally Sensitive Hashing. Advantages and drawbacks of the methods are identified based on theoretical considerations as well as empirical evaluations...