Search
Search results for: analog circuits
-
High-performance analog circuits : bipolar noise
PublicationOmówiono typowe źródła szumów występujące w tranzystorach bipolarnych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS),lawinowe. Przedstawiono szumowy schemat zastępczy tranzystora bipolarnego oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Przytoczono informacje o zastępczej rezystancji tranzystora szumów oraz współczynniku szumów.
-
Test limitations induced by fault-driven instability of analog circuits.
PublicationCelem pracy jest ocena ograniczeń testowania uszkodzeń parametrycznych wynikajacych z utraty stabilności przez testowany układ analogowy. Zastosowano metody zapożyczone z teorii sterowania: liniową transformacje frakcyjną i analizę metodą strukturalnych wartości szczególnych. Przykładowej analizie poddano filtr typu leapfrog. Do obliczeń wykorzystano środowisko Matlab/Simulink. Wyniki obliczeń wykazały dużą podatność testowanego...
-
A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems
PublicationPrzedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublicationThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
-
A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier
PublicationA new approach of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps of mixed-signal systems controlled by microcontrollers is presented. It consists of a measurement procedure and a fault diagnosis procedure. We measure voltage samples of a time response of a tested circuit on a stimulation of a unit step function given at the common-mode reference voltage input of the op-amp. The fault detection and fault localization...
-
Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits
PublicationW pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...
-
Fault diagnosis of analog piecewise linear circuits based on homotopy
PublicationArtykuł opisuje weryfikację metodą diagnostyki analogowych układów odcinkowo-liniowych opartą na podejściu homotopijnym. Homotopia przekształca jedną funkcję f(x) w inną funkcję g(x) poprzez zmianę parametru homotopii tî[0,1]. Ścieżka homotopijna pokazuje drogę od punktu x0 z dziedziny funkcji f(x) do odpowiadającego mu punktu x* funkcji g(x). Idea metody zakłada wykorzystanie funkcji f(x) do opisu diagnozowanego układu w stanie...
-
Implementation of an input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems
PublicationPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody 2D detekcji i lokalizacji uszkodzeń sieci analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów nieuszkodzonych w systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Metoda składa się z dwóch etapów: przedtestowego - tworzenie słownika uszkodzeń i testowego, w którym dokonywany jest pomiar przez mikrokontroler amplitudy i przesunięcia fazowego odpowiedzi na pobudzenie przebiegiem...
-
New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits
PublicationIn the paper a new fault diagnosis-oriented neural network and a diagnostic method for localization of parametric faults in Analog Electronic Circuits (AECs) with tolerances is presented. The method belongs to the class of dictionary Simulation Before Test (SBT) methods. It utilizes dictionary fault signatures as a family of identification curves dispersed around nominal positions by component tolerances of the Circuit Under Test...
-
ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING
Journals -
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing
Journals -
A nine-input 1.25 mW, 34 ns CMOS analog median filter for image processing in real time
PublicationIn this paper an analog voltage-mode median filter, which operates on a 3 × 3 kernel is presented. The filter is implemented in a 0.35 μm CMOS technology. The proposed solution is based on voltage comparators and a bubble sort configuration. As a result, a fast (34 ns) time response with low power consumption (1.25 mW for 3.3 V) is achieved. The key advantage of the configuration is relatively high accuracy of signal processing,...
-
Large dynamic range high frequency fully differential CMOS transconductanceamplifier.
PublicationW pracy zaproponowano nową koncepcję układową w pełni różnicowego wzmacniacza transkonduktancyjnego CMOS o dużym zakresie dynamiki i szerokim pasmie częstotliwości. Przeprowadzone badania teoretyczne i symulacyjne potwierdziły małe zniekształcenia harmoniczne (THD), szerokie pasmo przenoszonych częstotliwości oraz duży zakres dynamiki dla sygnałów różnicowych.
-
Design of highly linear tunable CMOS OTA for continuous-time filters
PublicationW pracy przedstawiono analityczną metodę projektowania wzmacniaczy transkon-duktancyjnych CMOS o bardzo dobrej liniowości. Zaproponowano dwie wersje układu różniące się umiejscowieniem dodatkowej pary różnicowej służącej do kompensacji nieliniowości charakterystyki przejściowej. Praca zawiera wyniki symulacji pełnych wersji obu układów otrzymane przy użyciu symulatora SPICE.
-
Zbigniew Czaja dr hab. inż.
PeopleZbigniew Czaja was born in Czluchow, Poland, in 1970. He graduated from Gdansk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics in 1995. The Ph.D. degree in electronics was received in 2001 from the same university. He worked as assistant professor at this university from 2002 to 2013. In 2014, he qualified as an associate professor, and in 2017, as a professor. His research interests are in...
-
A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
PublicationA new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for...
-
Fault detection in electronic circuits using test buses
PublicationA survey of test buses designed for diagnostics of digital and analog electronic circuits is presented: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Each bus is presented with its structure, solution of key elements, particularly boundary registers and a set of test instructions. Diagnosis with the use of the described buses is...
-
Using an IEEE1149.1 Test Bus for Fault Diagnosis of Analog Parts of Electronic Embedded Systems
PublicationThe new solution of a BIST called the JTAG BIST for self-testing of analog parts of electronic embedded systems is presented in the paper. The JTAG BIST consists of the BCT8244A and SCANSTA476 integrated circuits of Texas Instruments controlled via the IEEE 1149.1 bus. The BCT8244A is a scan test device with octal buffers, and the SCANSTA476 is a 12-bit ADC with 8 analog input channels. Self-testing approach is based on the fault...
-
Michał Kowalewski dr inż.
PeopleResearch career: Doctoral dissertation "Tolerance robust, dictionary methods of fault diagnosis of electronic circuits with specialized neural classifier". Participation as a performer in four KBN research teams MNiSW and NCBiR concerning the development of diagnostic methods for analog electronic circuits and diagnostics of technical objects using impedance spectroscopy methods. 39 publications, including 10 in magazines,...
-
Multi-Channel Virtual Instrument for Measuring Temperature—A Case Study
PublicationThe article presents the hardware and software configuration of the developed multi-channel temperature measurement system as well as calibration procedures and measurement results verifying the properties of measurement channels. The system has been developed and dedicated primarily for measuring the temperature distribution in a laboratory model simulating underground power lines. With the adopted configuration of the analog...