Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 4833
-
Catalog
- Publications 4038 available results
- Journals 29 available results
- Publishing Houses 1 available results
- People 122 available results
- Inventions 75 available results
- Projects 19 available results
- Laboratories 16 available results
- Research Teams 12 available results
- Research Equipment 14 available results
- e-Learning Courses 161 available results
- Events 7 available results
- Open Research Data 339 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: POMIAR RLC
-
RSC Advances
Journals -
Pomiary Automatyka Robotyka
Journals -
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
Metodyka wykonywania pomiarów oraz ocena niepewności i błędów pomiaru
Publicationelem każdego ćwiczenia w laboratorium studenckim jest zmierzenie pewnych wielkości, a następnie ob- liczenie na podstawie tych wyników pomiarów wartości wielkości badanej. Rezulta- tem końcowym badań jest nie tylko otrzymany wynik liczbowy. Nie mniej ważne jest dokonanie oceny dokład- ności pomiaru oraz opraco- wanie wniosków końcowych. Warto zadać sobie pytanie: czy to, co zostało zmierzone, ma sens i co z tego wynika?...
-
A method of measuring RLC components for microcontroller systems
PublicationA new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the...
-
Optimization and improvement of the ARQ mechanism in RLC layer in UMTS.
PublicationParametry wydajnościowe warstwy RLC systemu UMTS są silnie uzależnione od ich konfiguracji początkowej i dynamicznych zmian. Celem referatu była prezentacja efektywności pracy warstwy RLC, w trybie AM, ze szczególnym uwzględnieniem mechanizmu ARQ. Zaproponowano procedury optymalizacji ustawień parametrów RLC. Opisano też metody dalszej poprawy efektywności funkcjonowania RLC AM, poprzez zdefiniowanie i zaimplementowanie nowych...
-
Stereoskopowy pomiar odległości
PublicationPomiar odległości jest jedną z podstawowych operacji spotykanych w systemach przemysłowych i militarnych. W pracy przedstawiono urządzenie do precyzyjnego pomiaru małych odległości nieprzekraczających 15 m. Urządzenie będzie zainstalowane na platformie mobilnej przewidzianej do pomiaru temperatury linii wysokiego napięcia z użyciem kamery termowizyjnej. Pomiar tą metodą wymaga określenia odległości od obiektu. Wartość odległości...
-
Pomiar rezystancji uziemienia
PublicationOdpowiedź na list czytelnika objaśnia jak postępować w razie koniecznościpomiaru rezystancji uziemienia w terenie uzbrojonym.
-
Zastosowanie probabilistycznego modelu pomiaru do wyznaczania miar jakości testu
PublicationZaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu...
-
Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru
PublicationZaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.