Metrology and Measurement Systems - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Metrology and Measurement Systems

ISSN:

0860-8229

eISSN:

2300-1941

Wydawca:

Polska Akademia Nauk

Dyscypliny:

  • automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • nauki o bezpieczeństwie (Dziedzina nauk społecznych)
  • astronomia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 100 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 100 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 100 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 15 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 9 B

Model czasopisma:

Open Access

Punkty CiteScore:

Punkty CiteScore - aktualny rok
Rok Punkty
Rok 2022 2
Punkty CiteScore - lata ubiegłe
Rok Punkty
2022 2
2021 2.4
2020 2.5
2019 2.8
2018 2.8
2017 2.9
2016 2.7
2015 2.4
2014 2.2
2013 1.8
2012 1.6
2011 1.1

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Polityka wydawnicza:

Licencja: CC BY-NC-ND 3.0
Licencja
Creative Commons: BY-NC-ND 3.0 otwiera się w nowej karcie
Informacja o polityce wydawniczej
http://www.metrology.pg.gda.pl/instruct.html otwiera się w nowej karcie
Informacja o warunkach samoarchiwizacji
Zawarta w licencji
Czy czasopismo pozwala na samoarchiwizację
Tak - z ograniczeniami
Submitted Version Pomoc
tak
Accepted Version Pomoc
tak
Published Version Pomoc
tak
Miejsca samoarchiwizacji
poza serwisami komercyjnymi
repozytorium publikacji naukowych
strona pracodawcy (zgodnie z afiliacją)
strona domowa autora
Informacje o polityce dot. danych badawczych
brak danych
Embargo w miesiącach
brak embargo
Informacje dodatkowe
Indeksowane w DOAJ
Przy udostępnianiu/rozpowszechnianiu należy podać źródło oryginału i DOI.

Filtry

wszystkich: 111

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2016
  • Voltage Dependence of Supercapacitor Capacitance
    Publikacja
    • A. Szewczyk
    • J. Sikula
    • V. Sedlakova
    • J. Majzner
    • P. Sedlak
    • T. Kuparowitz

    - Metrology and Measurement Systems - Rok 2016

    Electronic Double-Layer Capacitors (EDLC), called Supercapacitors (SC), are electronic devices that are capable to store a relatively high amount of energy in a small volume comparing to other types of capacitors. They are composed of an activated carbon layer and electrolyte solution. The charge is stored on electrodes, forming the Helmholtz layer, and in electrolyte. The capacitance of supercapacitor is voltage- dependent. We...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

Rok 2015
Rok 2014
Rok 2013
Rok 2012

wyświetlono 1778 razy