Porównanie różnych metod pomiarów wysokości barier potencjału w strukturach MOS. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Porównanie różnych metod pomiarów wysokości barier potencjału w strukturach MOS.

Abstrakt

W referacie omówiono sposoby eliminacji problemów upływności bramki przy pomiarach charakterystyk C(V) kondnsatorów z ultra-cienkim tlenkiem bramki. Przedstawiono sposoby wykorzystania trójelementowego schematu zastępczego kondensatora MOS i przykład analizy pojemności, konduktancji tlenku i rezystancji szeregowej, zmierzonych przy pomocy miernika impedancji Agilent 4294A.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
polski
Rok wydania:
2004
Opis bibliograficzny:
Piskorski K., Kudła A., Przewłocki H.: Porównanie różnych metod pomiarów wysokości barier potencjału w strukturach MOS.// / : , 2004,
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 46 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi