Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (56)

Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH

  • Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej

    Badania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...

  • Katedra Technologii Polimerów

    Potencjał Badawczy

    W Katedrze Technologii Polimerów realizowane są prace badawczo-wdrożeniowe, wykonywane ekspertyzy i analizy oraz prowadzone są szkolenia w zakresie technologii polimerów oraz przetwórstwa i recyklingu tworzyw sztucznych. Oferujemy nowe technologie i przeprowadzamy modyfikacje technologii już istniejących.

  • Zespół Fizyki Ciała Stałego

    Potencjał Badawczy

    Tematyka badawcza Katedry Fizyki Ciała Stałego obejmuje wytwarzanie i badanie materiałów dla energetyki (m.in. nanostruktury, sensory) o innowacyjnych właściwościach fizyko-chemicznych, tj: * kryształy, polikryształy, ceramika, szkło * materiały objętościowe, cienkie warstwy, nanomateriały * materiały metaliczne, półprzewodnikowe, nadprzewodnikowe, izolatory Tematyka badawcza obejmuje również badania symulacyjne i obliczeniowe...

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (14)

Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (392)

Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH

  • Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

    W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

  • Odszumianie obrazów z mikroskopu sił atomowych

    Publikacja

    Znanych jest wiele metod odszumiania obrazów. Oprogramowanie przygotowane do tego celu wykorzystuje zwykle transformację falkową i jest często dostępne w sieci Internet lub np. jako tool-box w programie Matlab. Brak jest jednak nadal ogólnych metod, które pozwoliłyby dobierać w sposób optymalny, ze względu na skuteczność usuwania szumów, parametry stosowanej transformacji. Ta uwaga dotyczy także odszumiania obrazów uzyskiwanych...

  • Ocena stanu organicznych powłok ochronnych w skali mikro za pomocą mikroskopu sił atomowych

    Publikacja

    Organiczne powłoki ochronne stanowią jeden z najpowszechniej stosowanych środków ochrony antykorozyjnej materiałów konstrukcyjnych. Ich trwałość i czas eksploatacji zależą m.in. od rodzaju materiału polimerowego oraz warunków użytkowania.Wiedza na temat podatności poszczególnych powłok na degradację, mechanizmu niszczenia, miejsc inicjacji procesu degradacyjnego umożliwia prawidłową selekcję powłoki. Jednakże znaczna część technik...

  • Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

    Publikacja

    Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

  • Obtaining ionic forces by the total-energy tight-binding method

    Publikacja

    Zastosowanie metody ciasnego wiązania w sformułowaniu nieortogonalnym do obliczania sił atomowych w symulacji metodą dynamiki molekularnej pozwala na stworzenie modelu charakteryzującego się lepszą przenośnością, w porównaniu z potencjałami empirycznymi, którymi posługuje się tradycyjna dynamika molekularna. W niniejszej pracy przedstawiono szczegółowo sposób obliczenia pochodnych elementów macierzy Hamiltona i macierzy nakładania...

    Pełny tekst do pobrania w portalu