Filtry
wszystkich: 1
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (9)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Koherentna tomografia optyczna wykorzystująca źródło o przestrajalnej długości fali.
PublikacjaOptyczne metody pomiarowe odgrywają w ostatnich latach coraz większą rolę w badaniach i diagnostyce medycznej. Mają one szereg zalet, do których zaliczyć można odporność na promieniowanie elektromagnetyczne, bezinwazyjność,bezpieczeństwo pomiaru oraz wysoką rozdzielczość. Jedną z najważniejszych technik stosowanych w diagnostyce medycznej jest koherentna tomografia optyczna (OCT). Jest to wysokorozdzielcza metoda obrazowania...
-
Ultrahigh-resolution detection techniques for biomedical applications of optical coherent tomography.
PublikacjaOptyczne metody pomiarowe odgrywają w ostatnich latach coraz większą rolę w badaniach i diagnostyce medycznej. Mają one szereg zalet, do których zaliczyć można odporność na promieniowanie elektromagnetyczne, bezinwazyjność, bezpieczeństwo pomiaru oraz wysoką rozdzielczość. Jedną z najważniejszych technik stosowanych w diagnostyce medycznej jest koherentna tomografia optyczna (OCT). Jest to wysokorozdzielcza metoda obrazowania wewnętrznych...
-
Measurement of selected characteristics of low-coherence optical signal sources for optical coherence tomography
PublikacjaOCT to nowa metoda badania wewnętrznych struktur materiałów. Wśród wielu technik detekcji sygnału optycznego wykorzystywanych w OCT najpopularniejszą i najbardziej obiecującą jest OLCR (Opticla-Low Coherence Reflectomerty - reflektometria niskokoherentna). OLCR wykorzystuje szerokopasmowe źródła, których parametry, jak np.: charakterystyka widmowa, charakterystyka szumowa, determinują właściwości metrologiczne systemu OCT. W artykule...
-
Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne
PublikacjaW artykule przedstawiono zasady, na których oparta jest metoda OLCR, możliwości jej wykorzystania oraz wpływ czynników ograniczających jej zdolności pomiarowe. Zaprezentowano konstrukcję światłowodowego niskokoherencyjnego, reflektometrycznego systemu pomiarowego. Przedstawiono wyniki badań teoretycznych i doświadczalnych wpływu charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w systemie na rozdzielczość pomiaru.
-
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublikacjaW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.