Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY W PEŁNI RÓŻNICOWE - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY W PEŁNI RÓŻNICOWE

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (90)

Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY W PEŁNI RÓŻNICOWE

  • Katedra Elektroenergetyki

    Potencjał Badawczy

    * ochrona i bezpieczeństwo pracy systemu elektroenergetycznego, * stabilność sterowanie pracą systemu elektroenergetycznego, * kompleksowe modelowanie systemów elektroenergetycznych oraz szczegółowe modele elementów systemu, * urządzenia FACTS i systemy HVDC w systemach elektroenergetycznych, * odnawialne źródła energii w systemach elektroenergetycznych, * urządzenia i instalacje elektryczne, * optymalizacja struktury i parametrów...

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

  • KatedrA Chemii Fizycznej

    Potencjał Badawczy

    1.Termodynamika i struktura roztworów, oddziaływania międzycząsteczkowe w roztworach - badania termodynamiczne, spektroskopowe i teoretyczne. 2. Fizykochemiczne podstawy analizy środowiskowej.

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (24)

Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY W PEŁNI RÓŻNICOWE

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (956)

Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY W PEŁNI RÓŻNICOWE

  • Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits

    Publikacja

    - Rok 2008

    Artykuł prezentuje model probabilistyczny przeznaczony do oceny, porównania i optymalizacji architektur testujących układy w pełni różnicowe. Model ma postać funkcji rozkładów gęstości prawdopodobieństwa amplitudy i fazy sygnału mierzonego w trakcie testowania. Parametry modelu są wyznaczane za pomocą rozwinięcia funkcji układowej w szereg Taylora. Poprawność modelu sprawdzono poprzez porównanie z wynikami symulacji, uzyskanymi...

  • Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

    Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...

  • Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

    Publikacja

    - Diagnostyka - Rok 2008

    Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych

    Publikacja

    - Rok 2005

    Zaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.

  • Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems

    Przedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...

    Pełny tekst do pobrania w portalu