Filtry
wszystkich: 15
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (11)
Wyniki wyszukiwania dla: afm- mikroskopia sił atomowych
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Potencjał BadawczyBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Katedra Technologii Polimerów
Potencjał BadawczyW Katedrze Technologii Polimerów realizowane są prace badawczo-wdrożeniowe, wykonywane ekspertyzy i analizy oraz prowadzone są szkolenia w zakresie technologii polimerów oraz przetwórstwa i recyklingu tworzyw sztucznych. Oferujemy nowe technologie i przeprowadzamy modyfikacje technologii już istniejących.
-
Zespół Fizyki Ciała Stałego
Potencjał BadawczyTematyka badawcza Katedry Fizyki Ciała Stałego obejmuje wytwarzanie i badanie materiałów dla energetyki (m.in. nanostruktury, sensory) o innowacyjnych właściwościach fizyko-chemicznych, tj: * kryształy, polikryształy, ceramika, szkło * materiały objętościowe, cienkie warstwy, nanomateriały * materiały metaliczne, półprzewodnikowe, nadprzewodnikowe, izolatory Tematyka badawcza obejmuje również badania symulacyjne i obliczeniowe...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (4)
Wyniki wyszukiwania dla: afm- mikroskopia sił atomowych
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
Laboratorium smartLAB
Oferta Biznesowalaboratorium z podstawowym wyposażeniem do prowadzenia nauczania podstaw chdmii, chemii nieorganicznej i chemii organicznej.
-
Laboratorium smartLAB
Oferta Biznesowalaboratorium z podstawowym wyposażeniem do prowadzenia nauczania podstaw chdmii, chemii nieorganicznej i chemii organicznej.
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (44)
Wyniki wyszukiwania dla: afm- mikroskopia sił atomowych
-
Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
PublikacjaMikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...
-
Postępy w badaniach korelacji pomiędzy morfologią i właściwościami segmentowych poliuretanów.
PublikacjaW pracy opisano postępy w badaniach mikroskopowych poliuretanów segmentowych. Przedmiotem omówienia były mikroskopia optyczna polaryzacyjna, mikroskopia optyczna konfokalna, mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych oraz połączone badania mikroskopowe z innymi metodami (spektometria mikroramanowska, mikroskopia termiczna). Za pomocą tych metod zinterpretowano morfologie poliestrouretanów otrzymywanych w technologii reaktywnego...
-
Study of particle - bubble interaction using atomic force microscopy - current possibilities and challenges
PublikacjaBadania oddziaływań pomiędzy cząstkami mineralnymi i pęcherzykami powietrza są kluczowe do zrozumienia przebiegu flotacji. Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych (AFM) i techniki próbnika koloidalnego umożliwia pomiar takich oddziaływań.
-
Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis
PublikacjaPrzedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej...