Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 15
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (10)
Wyniki wyszukiwania dla: reflektometry mikrofalowe
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Potencjał BadawczySpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
-
Katedra Inżynierii Sanitarnej
Potencjał BadawczyKatedra realizuje swoje zadania badawcze w takim zakresie jak opracowywanie metody podczyszczania lub oczyszczania ścieków przemysłowych oraz ich pomiary. Drugą gałęzią zainteresowań są modele matematyczne i symulacje procesów oczyszczania ścieków i zagospodarowania osadów, opracowywanie symulacji strategii eksploatacyjnych i działań modernizacyjnych.
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (5)
Wyniki wyszukiwania dla: reflektometry mikrofalowe
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych
Oferta BiznesowaŚrodowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych powstało w ramach realizacji projektu CZT Centrum Zaawansowanych Technologii POMORZE i mieści się w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Laboratorium zostało wyposażone w specjalistyczne zaplecze aparaturowe, które w połączeniu z kompetencjami naukowymi i technologicznymi kadry pozwala na...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (131)
Wyniki wyszukiwania dla: reflektometry mikrofalowe
-
Obciążenie wzorcowe na duże moce mikrofalowe
PublikacjaOmówiono krótko rozwój reflektometrów mikrofalowych oraz zasadę i konstrukcję reflektometrów pracujących z dużymi poziomami mocy. Przeanalizowano wpływ wartości modułu współczynnika odbicia obciążenia wzorcowego, które jest stosowane w procedurze kalibracyjnej reflektometrów, na dokładność reflektometrycznych pomiarów niedopasowania impedancyjnego oraz istotnych w badaniach procesów grzania mikrofalowego pomiarów mocy dostarczanej...
-
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublikacjaW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.
-
High resolution optical time-domain reflectometry using sub-picosecond laser sources
PublikacjaPrzedstawiono działanie sensorów światłowodowych wykorzystujących reflektometrię optyczną w dziedzinie czasu. Omówiono ograniczenia możliwości pomiarowych tej klasy sensorów wynikające z zastosowania w nich reflektometrów światłowodowych zaprojektowanych do zastosowań w telekomunikacji. Zaprezentowano sensory wykorzystujące specjalizowane reflektometry o dużej rozdzielczości. Przedstawiono koncepcję sensora wykorzystującego dwa...
-
Krzysztof Nyka dr hab. inż.
OsobyKrzysztof Nyka, absolwent Wydziału Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej (WETI PG), gdzie uzyskał tytuł magistra inżyniera (1986, telekomunikacja) stopień doktora nauk technicznych (2002, elektronika) i doktora habilitowanego (2020 automatyka, elektronika i elektrotechnika). Obecnie jest zatrudniony na stanowisku profesora uczelni w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej WETI PG. Zainteresowania...
-
Wyładowanie mikrofalowe (915 MHz) dużej mocy w argonie pod ciśnieniem atmosferycznym
PublikacjaW niniejszym artykule przedstawiono wyniki pomiarów spektroskopowych wyładowania mikrofalowego w argonie pod ciśnieniem atmosferycznym. Badania przeprowadzono dla wyładowania mikrofalowego podtrzymywanego mikrofalami o częstotliwości 915 MHz w mikrofalowym aplikatorze plazmy typu rezonator wnękowy. Na podstawie uzyskanych wyników określono temperaturę wzbudzenia elektronowego, temperaturę cząstek ciężkich plazmy oraz koncentracje...