Depth XPS profile of Fe-S layers on a titanium substrate

Opis

Depth XPS profile of Fe-S layers on a titanium substrate was measured. Material was etched by Argon ion gun and measured by XPS method. For each sample, three times per 10 minutes each was sputtered.

Plik z danymi badawczymi

XPS.zip

2.3 MB, S3 ETag 8ab0d9955cca421772007fa562ac0567-1, pobrań: 7

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:: origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-06-24

Data wytworzenia:

2017

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/pd69-gw55

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

Marcin Stanisław Łapiński dr inż.
Instytut Nanotechnologii i Inżynierii Materiałowej
numer orcid 0000-0002-3283-2886otwiera się w nowej karcie
Twórca

wyświetlono 30 razy

Wyszukiwarka