Depth XPS profile of vanadium pentoxide - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Depth XPS profile of vanadium pentoxide

Opis

Vanadium pentoxide sample was manufactured by sol-gel method and deposited on a substrate by spin coating technique. To determine depth profile of chemical composition of thin film, etching by Argon ion gun was used. Thin film was etched three times. Chemical composition was measured by XPS method.

Plik z danymi badawczymi

XPS.zip
383.5 kB, S3 ETag ff21bb568f65631694a1c432cbd7b6ca-1, pobrań: 3
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik XPS.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-06-24
Data wytworzenia:
2017
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • Inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/bvsh-gg85 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

wyświetlono 31 razy