High temperature XRD diffraction patterns collected during the reoxidation process of SFM-based compounds - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

High temperature XRD diffraction patterns collected during the reoxidation process of SFM-based compounds

Opis

This dataset contains three file folders for SFM, LSFM (La-doped) and SFMNb (Nb-doped) respectively. Samples were reduced prior to the XRD measurements. The measurements were performed on Philipps X’Pert Pro diffractometer using a high-temperature Anthon Paar HT-1200 oven adapter. Scans were performed each 50 deg. in air. The data in dataset were already exported to the *.asc from *.xrdml.

Plik z danymi badawczymi

062023_HT_XRD_SFM, LSFM, SFMNb.zip
2.3 MB, S3 ETag 8a60c1a292d3ad7d2e7253458ed16fee-1, pobrań: 3
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Embargo na plik:
2025-06-15

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2024
Data zatwierdzenia:
2024-01-15
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/4h3p-7786 otwiera się w nowej karcie
Finansowanie:
Seria:
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

wyświetlono 42 razy