Luminescence of TeO2:Eu thin films

Opis

Tellurium dioxide doped by europium thin films were deposited by magnetron sputtering method and simultaneously heated at 200 ^oC. Presence of Eu ions and their valence states was confirmed by X-ray photoemission spectroscopy measurements. The structure of the films as well as the influence of europium dopant on crystalline structure of the films was examined by X-ray diffraction method. Morphology of the samples was observed by atomic force microscope. Doping by europium didn’t change structural parameters. Optical measurements showed photoluminescence from both Eu²⁺ and Eu³⁺ ions.

Plik z danymi badawczymi

TeO2.zip

268.3 kB, S3 ETag 693d33698b5860807f02e0b065c0a9cf-1, pobrań: 1

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-06-24

Data wytworzenia:

2016

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/vecs-6k47

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

Marcin Stanisław Łapiński dr inż.
Instytut Nanotechnologii i Inżynierii Materiałowej
numer orcid 0000-0002-3283-2886otwiera się w nowej karcie
Twórca

wyświetlono 45 razy

Wyszukiwarka