XPS analysis of the GO based materials - Open Research Data - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

XPS analysis of the GO based materials

Opis

Graphene oxides samples were measured by XPS method. The X-ray photoemission spectroscopy measurements were carried out with Omicron NanoTechnology UHV equipment. The hemispherical spectrophotometer was equipped with a 128-channel collector. The XPS measurements were performed at room temperature at a pressure below 1.1 × 10−8 mBar. The photoelectrons were excited by an Mg-Kα X-Ray source. The X-ray anode was operated at 15 keV and 300 W. Obtained results were analyzed by Xasa XPS software.

For measurements powders of the pure graphene oxide (GO), reduced graphene oxide (rGO) and functionalized by S and N elements graphene oxide were selected. Nitrogen doped graphene oxide was synthesized by the hydrothermal method.

Plik z danymi badawczymi

XPS_powders.opj
2.1 MB, S3 ETag 4441dbea2cd2f60e257344b87d6d4be9-1, pobrań: 26
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-07-20
Data wytworzenia:
2019
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/wyh2-d333 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 78 razy