XPS measurement of the Fe-Ti based materials - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

XPS measurement of the Fe-Ti based materials

Opis

The mono‐ and bimetal‐modified (Pd, Cu) titanium(IV) oxide and iron oxide (III) photocatalysts were prepared by chemical reduction method and characterized using XPS method. The composition of elements incorporated in the surface layer of mono- and bimetallic photocatalysts was determined by XPS analysis, as well as the valence state of elements. Measurements confirmed composition and presence of Pd and Cu dopants. Additionally it confirmed a mixed valence state of Fe in a iron oxides structures.

Plik z danymi badawczymi

xps.zip
1.1 MB, S3 ETag bcea931759e10fb8bed677fa5c541ac0-1, pobrań: 13
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik xps.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-06-25
Data wytworzenia:
2016
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/29mc-kd34 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

wyświetlono 57 razy