Wyszukiwarka
Opis
Yttrium-doped strontium titanate was prepared via conventional solid-state reaction method from Y2O3 (Sigma Aldrich, 99,9%), TiO2 (Sigma Aldrich, 99%) and SrCO3 (Sigma Aldrich,98%). For comparision, two other techniques were used for synthesis: Pechini and wet methods. Both kind of samples were measured, after and before reduction process (in a hydrogen). Chemical composition of manufactured samples was measured by XPS method. XPS analyses were carried out with X-ray photoelectron spectrometer (Omicron NanoTechnology) with 128-channel collector. XPS measurements were performed at room temperature in a ultra-high vacuum conditions, below 1.1 x10-8 mBar. The photoelectrons were excited by an Mg-Ka X-Ray source. The X-ray anode was operated at 15 keV and 300 W. Omicron Argus hemispherical electron analyser with round aperture of 4 mm was used for analysing of emitted photoelectrons. The binding energies were corrected using the background C1s line (285.0 eV). XPS spectra were analysed with Casa-XPS software using a Shirley background subtraction and Gaussian–Lorentzian curve as a fitting algorithm.
Plik z danymi badawczymi
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
- Oprogramowanie:
- origin
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2021
- Data zatwierdzenia:
- 2021-06-25
- Data wytworzenia:
- 2017
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/hkjr-eg12 otwiera się w nowej karcie
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 124 razy