Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

Abstrakt

Cytowania

  • 1 8

    CrossRef

  • 1 9

    Web of Science

  • 1 9

    Scopus

Autorzy (3)

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS nr 9, wydanie 4,
ISSN: 1468-6996
ISSN:
1468-6996
Rok wydania:
2008
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1088/1468-6996/9/4/045006
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 22 razy

Meta Tagi