Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Scanning Probe Microscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Scanning Probe Microscopy

Abstrakt

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Autorzy

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Opublikowano w:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 20, wydanie 02, strony 582 - 585,
ISSN: 1431-9276
ISSN:
1431-9276
Rok wydania:
2014
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927613013974

wyświetlono 0 razy

Meta Tagi