Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Scanning Probe Microscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Scanning Probe Microscopy

Abstrakt

Cytowania

Mateusz Tobiszewski, Anna Arutunow, Kazimierz Darowicki. (2014). Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Scanning Probe Microscopy, 20(02), 582-585. https://doi.org/10.1017/s1431927613013974

Autorzy

Informacje szczegółowe

Opublikowano w:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 20, wydanie 02, strony 582 - 585,
ISSN: 1431-9276
ISSN:
1431-9276
Rok wydania:
2014

wyświetlono 0 razy

Meta Tagi