Artificial Neural Network (ANN)-Based Voltage Stability Prediction of Test Microgrid Grid - Publikacja - MOST Wiedzy

Artificial Neural Network (ANN)-Based Voltage Stability Prediction of Test Microgrid Grid

Abstrakt

Cytowania

1 0

CrossRef
0

Web of Science
1 1

Scopus

Autorzy (3)

Muhammad Abbass
Robert Lis
Zohaib Mushtaq

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

pełna treść artykułu zobacz w serwisie zewnętrznym otwiera się w nowej karcie

Informacje szczegółowe

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:: IEEE Access nr 11, strony 58994 - 59001,
ISSN: 2169-3536
ISSN:: 2169-3536
Rok wydania:: 2023
DOI:: Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1109/access.2023.3284545
Weryfikacja:: Brak weryfikacji

wyświetlono 54 razy