Comparative study of donor-induced quantum dots in Si nano-channels by single-electron transport characterization and Kelvin probe force microscopy - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Comparative study of donor-induced quantum dots in Si nano-channels by single-electron transport characterization and Kelvin probe force microscopy

Abstrakt

Cytowania

  • 1 5

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 1 8

    Scopus

Autorzy (6)

  • Zdjęcie użytkownika  K. Tyszka

    K. Tyszka

  • Zdjęcie użytkownika  D. Moraru

    D. Moraru

  • Zdjęcie użytkownika  A. Samanta

    A. Samanta

  • Zdjęcie użytkownika  T. Mizuno

    T. Mizuno

  • Zdjęcie użytkownika  R. Jabłoński

    R. Jabłoński

  • Zdjęcie użytkownika  M. Tabe

    M. Tabe

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS nr 117, wydanie 24,
ISSN: 0021-8979
ISSN:
0021-8979
Rok wydania:
2015
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.4923229
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 83 razy

Meta Tagi