Comparative study of donor-induced quantum dots in Si nano-channels by single-electron transport characterization and Kelvin probe force microscopy
Abstrakt
Cytowania
-
1 5
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1 8
Scopus
Autorzy (6)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- Publikacja w czasopiśmie
- Opublikowano w:
-
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
nr 117,
wydanie 24,
ISSN: 0021-8979 - ISSN:
- 0021-8979
- Rok wydania:
- 2015
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.4923229
- Weryfikacja:
- Brak weryfikacji
wyświetlono 83 razy