Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych.

Abstrakt

Przedstawiono system do pomiarów małoczęstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki strony 17 - 19,
ISSN: 0138-0826
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Szewczyk A.: Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych. // Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki. -., (2003), s.17-19
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 10 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi