Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu odcinkowo-liniowym sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego, rejestracji odpowiedzi za pośrednictwem multimetru oraz estymacji wartości parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2005
- Opis bibliograficzny:
- Kowalewski M.: System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych// / : , 2005,
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 46 razy