System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

Abstrakt

Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu odcinkowo-liniowym sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego, rejestracji odpowiedzi za pośrednictwem multimetru oraz estymacji wartości parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
polski
Rok wydania:
2005
Opis bibliograficzny:
Kowalewski M.: System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych// / : , 2005,
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 5 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi