Wyszukiwarka
The Application of Kernel Density Estimation for Aided the Process of Locating Sources of Voltage Fluctuations
Abstrakt
Cytowania
-
1
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1 0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- Publikacja w czasopiśmie
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
nr 1,
wydanie 8,
strony 72 - 76,
ISSN: 0033-2097 - ISSN:
- 0033-2097
- Rok wydania:
- 2019
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.15199/48.2019.08.18
- Weryfikacja:
- Brak weryfikacji
wyświetlono 81 razy