Wyniki wyszukiwania dla: MODEL PROBABILISTYCZNY POMIARU
Filtry
wszystkich: 7934
wybranych: 58
-
Katalog
- Publikacje 7257 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 3 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 7 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 108 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 58 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 18 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 3 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 4 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 11 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 108 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 5 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 352 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MODEL PROBABILISTYCZNY POMIARU
-
Sposób i układ do pomiaru i diagnozowania zakłóceń nierówności powierzchni przedmiotów wykonywanych zwłaszcza z zastosowaniem narzędzia jednoostrzowego
Wynalazki -
Sposób i układ do pomiaru rezystancji pętli zwarciowej w obwodach chronionych wyłącznikami różnicowoprądowymi typu AC i typu A
Wynalazki -
Sposób absolutnego pomiaru położenia za pomocą liniału znacznikowego i kamery cyfrowej zwłaszcza zespołów maszyn wykonujących ruch prostoliniowy
Wynalazki -
Sposób wzrokowego wykonywania utworów dźwiękowych na instrumentach muzycznych z wykorzystaniem zapisu nutowego oraz układ do realizacji tego sposobu
WynalazkiPrzedmiotem wynalazku jest sposób wykonywania utworów dźwiękowych na instrumentach muzycznych za pomocą wzroku. Współczesne dostępne na rynku elektroniczne instrumenty muzyczne skomunikowane są z komputerem lub urządzeniami usprawniającymi odtwarzanie dźwięków. Dzięki zastosowaniu standardu MIDI lub OSC możliwa jest komunikacja między instrumentami a komputerem. Wynalazek wykorzystuje także znane rozwiązanie...
-
Sposób i układ do pomiaru impedancji pętli zwarciowej bez zbędnego wyzwalania wyłączników różnicowoprądowych w trójfazowych obwodach niskiego napięcia
Wynalazki -
Układ podwójnej pętli śledzenia fazy ciągu rozpraszającego do precyzyjnego pomiaru czasu nadejścia sygnału w korelacyjnym odbiorniku sygnałów DS-CDMA
Wynalazki -
Układ do pomiaru względnych zmian położenia dwóch przylegających elementów budowli lub konstrukcji rozdzielonych w wyniku obecności zarysowania, pęknięcia, szczeliny lub dylatacji
Wynalazki -
Sposób i układ do pomiaru ugięcia konstrukcji sztywnych, zwłaszcza pali lub ścian szczelnych, narażonych na boczne parcie gruntu i/lub materiałów rozdrobnionych
Wynalazki