Wyniki wyszukiwania dla: SPEKTROSKOPIA REFLEKTANCYJNA
Znaleźliśmy mało wyników, wypróbuj alternatywnej metody wyszukiwania.
Filtry
wszystkich: 1
Wyniki wyszukiwania dla: SPEKTROSKOPIA REFLEKTANCYJNA
-
Optical monitoring of thin oil film thickness in extrusion processes
PublikacjaPraca porusza problem pomiaru grubości cienkiej warstwy przyściennej -oleju, podczas procesu wyciskania ceramiki modelowej. Szczegółowo opisuje zjawiska fizyczne zachodzące w warstwie przyściennej oraz dynamiczne parametry wykorzystywane do oceny grubości. Autorzy opisują także metodę pomiaru oraz konstrukcję układów pomiarowych.