Wyniki wyszukiwania dla: EXPERT%20SYSTEMS
Wyświetlane wyniki pochodzą z wyszukiwania alternatywnego.
Filtry
wszystkich: 7308
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 5010 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 506 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 246 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 381 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 2 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 21 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 2 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 219 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 23 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 897 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: EXPERT%20SYSTEMS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR