Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 9466
wybranych: 2
-
Katalog
- Publikacje 6360 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 518 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 251 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 346 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 1 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 26 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 2 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 5 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 254 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 7 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1696 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: INSTRUMENTS AND MEASUREMENT SYSTEMS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Zespoły Badawcze* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego