Wyniki wyszukiwania dla: MATHEMATICAL MODEL, FINITE ELEMENT ANALYSIS, REDUCED ORDER SYSTEMS, RELIABILITY, FREQUENCY ESTIMATION, COMPUTATIONAL MODELING, NUMERICAL MODELS
Filtry
wszystkich: 24048
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 19526 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 1126 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 370 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 5 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 488 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 14 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 41 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 9 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 516 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 21 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1930 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MATHEMATICAL MODEL, FINITE ELEMENT ANALYSIS, REDUCED ORDER SYSTEMS, RELIABILITY, FREQUENCY ESTIMATION, COMPUTATIONAL MODELING, NUMERICAL MODELS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR