Wyniki wyszukiwania dla: DIODY SCHOTTKY'EGO

• Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel

  Publikacja

  • K. Darowicki
  • S. Krakowiak
  • P. Ślepski

  - ELECTROCHIMICA ACTA - Rok 2006

  Przedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.

• Problemy pomiarów szumów diod z węglika krzemu

  Publikacja

  • A. Szewczyk

  - Rok 2009

  Przedstawiono system do pomiaru szumów m.cz. diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu (SiC) spolaryzowanych w kierunku przewodzenia i zaporowym, z uwzględnieniem specyfiki pomiaru szumów wybuchowych (RTS). Badane diody charakteryzują się wysokim prądem przewodzenia (do 12A) i wysokim napięciem zaporowym (typowo 600V i 1200V). Omówiono zagadnienia związane ze sposobami polaryzacji badanych diod i ich wpływ na wyniki pomiarów....