Wyniki wyszukiwania dla: MAGISTRALA TESTUJĄCA IEEE 11497

• Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2011

  Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...

  Pełny tekst do pobrania w portalu