Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR RLC

• Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''

  Publikacja

  • G. Lentka
  • M. Michalkiewicz

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2011

  W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re...