Wyniki wyszukiwania dla: PREDYKCJA NIEZAWODNOŚCI

• Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych.

  Publikacja

  • L. Spiralski
  • A. Konczakowska

  - Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki - Rok 2003

  Omówiono metody oceny niezawodności elementów półprzewodnikowych, w szczególności w oparciu o badania przyspieszone. Badania te powiązano ściśle z procesem technologii wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych. Szerzej omówiono przyczyny uszkodzeń elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono predykcję niezawodności opartą na badaniach przyspieszonych. Wskazano na coraz szersze zainteresowanie badaniami niezawodności na...