Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY BIST

• Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...