Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY PRÓBKUJĄCE

• Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT

  Publikacja

  • P. Wierzba

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2010

  W artykule omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.

• Characterization of PLZT Thin Films for Fast Electro-Optical Sampling Circuits

  Publikacja

  • P. Wierzba
  • A. Łoziński

  - Rok 2011

  W artykule omówiono technologię wytwarzania cienkich warstw wybranych kompozycji ceramik ołowiowo-lantanowo-cyrkonowo-tytanowych, nazywanych ceramikami PLZT. Przedstawiono wyniki badań jakości warstw za pomocą techniki XRD. wyniki pomiaru grubości warstw, ich względnej przenikalności dielektrycznej i współczynnika załamania. Omówiono kierunki dalszych prac.