Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie optyczne, na przykład ceramik PLZT i kompozytów polimerowych. Dodatkowo opisano również oparte na optycznej interferometrii niskokoherentnej systemy do pomiaru temperatury, przesunięcia i współczynnika załamania. Przedstawiono zaawansowane układy detekcji wykorzystywane w tych systemach, pozwalające na znaczną redukcję szumów, a tym samym na zwiększenie dynamiki pomiarów.
Autorzy (7)
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
Bulletin of the Polish Academy of Sciences-Technical Sciences
nr 56,
strony 155 - 172,
ISSN: 0239-7528 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Pluciński J., Hypszer R., Wierzba P., Strąkowski M., Szczerska M., Maciejewski M., Kosmowski B.: Optical low-coherence interferometry for selected technical applications// Bulletin of the Polish Academy of Sciences-Technical Sciences. -Vol. 56., iss. nr 2 (2008), s.155-172
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 135 razy