Filters
total: 100
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (82)
Search results for: MICROCONTROLLERS, ADCS, DACS, SELF-TESTING, BISTS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Research PotentialSpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (18)
Search results for: MICROCONTROLLERS, ADCS, DACS, SELF-TESTING, BISTS
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Business OfferIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
-
Laboratorium Maszyn i Systemów Okrętowych
Business OfferBadania procesów i zjawisk w czasie realizacji obiegu roboczego w silniku z zapłonem samoczynnym dla potrzeb diagnostyki maszyn tłokowych.
-
GUT Tribology
Business Offer* badania tarcia i zużycia materiałów tribologicznych * badania eksperymentalne układów łożyskowych (tocznych i ślizgowych) smarowanych olejem, wodą, zanieczyszczonymi smarami lub smarami smarowanymi * teoretyczne badania wykorzystania modeli zweryfikowanych eksperymentalnie (w tym MES, CFD i FSI) * eksperymentalne badania wytrzymałości zmęczeniowej (łożyska ślizgowe cienkowarstwowe) * projektowanie nowych i modernizacja istniejących...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (44)
Search results for: MICROCONTROLLERS, ADCS, DACS, SELF-TESTING, BISTS
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublicationThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
-
Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems
PublicationThis paper concerns the implementation of shape-designed complementary signals (CSs), matched to the frequency characteristic of the circuit under test, in built-in self testers (BISTs), dedicated to mixed-signal embedded electronic systems for testing their analog sections. The essence of the proposed method and solution of CS BIST is low-cost realization on the base of hardware and software resources of microcontrollers used...
-
An idea of an approach to self-testing of mixed signal systems based on a quadratic function stimulation
PublicationA new approach to self-testing of the analog parts of mixed-signal electronic systems controlled by microcontrollers equipped with an ADC and a DAC is presented. It is based on a BIST and a new fault diagnosis method. A novelty is the use of the DAC as a component of the BIST, allowing to generate a stimulating signal with a quadratic function shape. It contributes to a better extraction of information about the state of the circuit...
-
A random signal generation method for microcontrollers with DACs
PublicationA new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are...
-
Self-Testing of Analog Parts Terminated by ADCs Based on Multiple Sampling of Time Responses
PublicationA new approach for self-testing of analog parts terminated by analog-to-digital converters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It is based upon a new fault diagnosis method using a transformation of the set of voltage samples of the time response of a tested analog part to a square impulse into localization curves placed in a multidimensional measurement space. The method can be used...