Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging

Abstract

W pracy przedstawiono wyniki pomiarów kondensatorów foliowych poddanych przyśpieszonemu procesowi starzenia na ramie trwałości. Stwierdzono, że w niektórych typach kondensatorów foliowych istnieje związek między intensywnością sygnału emisji akustycznej mierzonego w kondensatorach po ich wytworzeniu oraz rezystancji izolacji mierzonej po procesie ich starzenia.

Citations

  • 1 3

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 1 5

    Scopus

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Published in:
MICROELECTRONICS RELIABILITY no. 51, pages 621 - 627,
ISSN: 0026-2714
Language:
English
Publication year:
2011
Bibliographic description:
Smulko J., Józwiak K., Olesz M., Hasse L.: Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 51, nr. iss. 3 (2011), s.621-627
DOI:
Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.microrel.2010.10.013
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 107 times

Recommended for you

Meta Tags