Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging

Abstrakt

W pracy przedstawiono wyniki pomiarów kondensatorów foliowych poddanych przyśpieszonemu procesowi starzenia na ramie trwałości. Stwierdzono, że w niektórych typach kondensatorów foliowych istnieje związek między intensywnością sygnału emisji akustycznej mierzonego w kondensatorach po ich wytworzeniu oraz rezystancji izolacji mierzonej po procesie ich starzenia.

Cytowania

  • 9

    CrossRef

  • 8

    Web of Science

  • 1 0

    Scopus

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
MICROELECTRONICS RELIABILITY nr 51, strony 621 - 627,
ISSN: 0026-2714
Język:
angielski
Rok wydania:
2011
Opis bibliograficzny:
Smulko J., Józwiak K., Olesz M., Hasse L.: Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 51, nr. iss. 3 (2011), s.621-627
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2010.10.013
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 19 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi