Search
Abstract
Zaproponowano nowe podejście do oceny lokalnych właściwości elektrycznych powłok organicznych. Wykorzystuje ono mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką przykładany jest sinusoidalny napięciowy sygnał pobudzenia o zadanej częstotliwości i mierzony jest prądowy sygnał odpowiedzi. Zalety tego podejścia zostały zaprezentowane na przykładzie powłoki akrylowej poddanej działaniu dwóch, różnych czynników niszczących - promieniowania ultrafioletowego i ekspozycji na elektrolit. Możliwe było wykrycie wczesnych etapów degradacji powłoki, ich przestrzenne zlokalizowanie i rozróżnienie mechanizmów degradacji tej samej powłoki eksponowanej na różne czynniki degradujące
Authors (3)
Cite as
Full text
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
Journal of Coatings Technology and Research
no. 10,
edition 1,
pages 65 - 72,
ISSN: 1945-9645 - Language:
- English
- Publication year:
- 2012
- Bibliographic description:
- Szociński M., Darowicki K., Schaefer K.: Aplication of impedance imaging to evaluation of organic coating degradation at a local scale// Journal of Coatings Technology and Research. -Vol. 10, iss. 1 (2012), s.65-72
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 62 times